works実績紹介
半導体・電子関連
コペル電子 モジュール対応 静特性試験装置/動特性試験装置
◆モジュール対応 静特性試験装置（CEMDシリーズ）高電圧・大電流領域での静特性評価を、より高速・高精度に。
◆モジュール対応 動特性試験装置 高速スイッチング評価に求められる“低インダクタンス・高耐久・高精細波形”を実現。
概要
| メーカー | コペル電子 |
|---|---|
| 概要：モジュール対応 静特性試験装置（CEMDシリーズ） | モジュール対応 静特性試験装置（CEMDシリーズ） 高電圧・大電流領域での静特性評価を、より高速・高精度に。 ■ 大電流高速試験 低インダクタンス・高速大電流回路を採用し、最大4800AでのON電圧を1ms以下で測定可能。 電流レンジは100A刻みで選択でき、用途に応じた柔軟な構成が可能です。 「4800AでのON電圧を1ms幅以下で測定可能」より引用。 ■ 高電圧測定 2000V・2500V・5000Vの高電圧領域で速い立ち上がり波形を実現。 VCES・V(BR)DSS測定では電圧クランプ設定により素子破壊を防止します。 「速い立上り波形を有し…電圧クランプを設定可能」より引用。 ■ 多様なデバイスに対応 IGBT・MOSFETをはじめ、各種パワーデバイスの主要パラメータに対応。 大電流版のVGE(th)・VGS(th)測定にも対応し、幅広い評価が可能です。 ■ 安全性・信頼性を高める機能 - バイアスチェック機能：測定中のバイアス異常を自動検知しNG判定 - セルフテスト機能：内部バイアス・検出回路・リレーの状態を自動診断 「設定範囲外の場合は測定異常とし、NG判定」「セルフテスト…オープン/ショートチェック」より引用。 ■ オプション機能 - カーブトレーサモード：VCE-IC特性などのグラフ取得 - オシロスコープモード：測定波形をPC上で確認可能 |
| 概要：モジュール対応 動特性試験装置 | モジュール対応 動特性試験装置 高速スイッチング評価に求められる“低インダクタンス・高耐久・高精細波形”を実現。 ■ 低インダクタンス設計 独自設計により、**最少Ls 16.4nH以下（素子内Ls込み）**を実現。 高速スイッチング測定における寄生成分を大幅に低減します。 「最少Ls実績16.4nH以下」より引用。 ■ 広い温度範囲に対応 -40℃〜200℃まで対応し、実使用環境に近い条件での評価が可能。 ■ 高い破壊耐性 素子短絡破壊時でも安定稼働を維持し、装置破損リスクを低減。 「測定素子の短絡破壊時でも安定した稼働を実現」より引用。 ■ 高精細な波形取得 寄生成分を極限まで抑え、真のスイッチング波形を忠実に再現。 高精度な解析に必要な波形品質を確保します。 ■ 多品種デバイスに対応 1in1〜8in1モジュール、IPM、PPI、TOパッケージなど幅広い実績。 DUTに合わせた最適フィクスチャを提案します。 ■ 安全性・保護機能 - 過電流検知機能：想定以上の電流発生時に即時遮断 - 自己診断機能：毎試験時に内部保護回路を自動チェック 「直ちに試験電流を遮断」「毎試験時、装置内部回路の自己診断」より引用。 ■ オプション機能 波形表示ソフトにより、取得波形の高速解析が可能。 |
| お問い合わせ | 松本営業所 |