works実績紹介
半導体・電子関連
キャッツ電子設計 SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM 【半導体テストシステム】
IGBT・ダイオードの電気特性を高電圧・大電流で高精度に自動測定する装置です。測定結果によるGO/NG判定が可能で、ハンドラーやロボットとの連携により量産向けシステムを構築できます。内部に32bit CPUを搭載し高速測定を実現。外部ではWindows 11対応ソフトにより測定プログラムの作成・管理を行える高度な測定システムです
概要
| メーカー | 株式会社キャッツ電子設計 |
|---|---|
| 特徴 | 本装置は、会話形式の操作画面により誰でも簡単に操作できます。16bit A/Dコンバーター採用で高精度測定が可能。24BINカウンターによる分類、バイアス条件に応じたオートタイム設定（手動設定も可）を備えています。さらに、外付けの精度チェックボックスにより容易に精度確認が行えます。 |
| 主な仕様 | ◆プログラム作成方法:モニターとキーボードによる会話形式 ・測定ステーション:1ステーション ・極性：NPN ・電圧、電流：3kV、1kA ◆ プログラムストア方法：ハードディスク ◆1品種あたりのプログラムステップ数：測定/分類条件 各最大1000ステップ ◆ 分類数 ・類出力：24分類 ・ハンドラー出力：24BIN ・カテゴリー分類：999 ◆測定時間 ・AUTO設定：電流値によって決まります。 ・MANU設定：10μs～999ms ３桁任意設定 ・測定間隔： 5ms／１項目（大電流項目 50ms／１項目） ・CPU処理時間： 約3ms～50ms/分類処理 ◆諸元 ・電源：AC200V±5% 50/60Hz ・消費電力：1.5kVA |
| お問い合わせ先 | 松本営業所 matumoto@koshin-intex.co.jp |
| 掲載開始日 | 2026年８月17日 |